Зарегистрированы в РИНЦ
Журнал «Вестник КРСУ», 2013 год, Том 13, № 1, Стр. 50-52. УДК 621.357.7
Сведения об авторах:

Аккозиев Имиль Аккунович – д-р техн. наук, профессор, чл.-корр. Международной академии информатизации, зав. кафедрой нетрадиционных и возобновляемых источников энергии КРСУ, тел.: (996-312) 360282, (996-770) 771430, e-mail: nvie.krsu@mail.ru
Жээнбеков Акылбек Аманович – канд. техн. наук, доцент кафедры нетрадиционных и возобновляемых источников энергии КРСУ, тел.: (996-312) 360282, (996-777) 715712, e-mail: aajeenbekov@istc.kg
Демьянович Петр Дмитриевич – вед. инженер лаборатории «Оптоэлектроника» КРСУ, тел.: (996-772) 517941
Пичужкин Андрей Геннадьевич – вед. инженер лаборатории «Оптоэлектроника» КРСУ, тел.: (996-555) 982088
Демьянович Даниил Петрович – ст. лаборант лаборатории «Оптоэлектроника» КРСУ, тел.: (996-772) 541460

ИЗМЕРЕНИЕ ВЫРАВНИВАЮЩЕЙ И МИКРОРАССЕИВАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЕЙ ЭЛЕКТРОЛИТОВ
Аккозиев И.А., Жээнбеков А.А., Демьянович П.Д., Пичужкин А.Г., Демьянович Д.П.
Аннотация на русском языке:

Описан новый способ измерения с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) выравнивающей и микрорассеивающей способностей электролита, предназначенного для гальванических процессов осаждения ультратонких проводящих пленок.

Ключевые слова на русском языке:

электролит; гальванический процесс; ультратонкие проводящие пленки

ИЗМЕРЕНИЕ ВЫРАВНИВАЮЩЕЙ И МИКРОРАССЕИВАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЕЙ ЭЛЕКТРОЛИТОВ
Аккозиев И.А., Жээнбеков А.А., Демьянович П.Д., Пичужкин А.Г., Демьянович Д.П.
Аннотация на кыргызском языке:

Описан новый способ измерения с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) выравнивающей и микрорассеивающей способностей электролита, предназначенного для гальванических процессов осаждения ультратонких проводящих пленок.

Ключевые слова на кыргызском языке:

электролит; гальванический процесс; ультратонкие проводящие пленки

ИЗМЕРЕНИЕ ВЫРАВНИВАЮЩЕЙ И МИКРОРАССЕИВАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЕЙ ЭЛЕКТРОЛИТОВ
Аккозиев И.А., Жээнбеков А.А., Демьянович П.Д., Пичужкин А.Г., Демьянович Д.П.
Аннотация на английском языке:

Описан новый способ измерения с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) выравнивающей и микрорассеивающей способностей электролита, предназначенного для гальванических процессов осаждения ультратонких проводящих пленок.

Ключевые слова на английском языке:

электролит; гальванический процесс; ультратонкие проводящие пленки

Скопировать выходные данные по ГОСТУ
Аккозиев И.А. ИЗМЕРЕНИЕ ВЫРАВНИВАЮЩЕЙ И МИКРОРАССЕИВАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЕЙ ЭЛЕКТРОЛИТОВ / И.А. Аккозиев, А.А. Жээнбеков, П.Д. Демьянович и др. // Вестник КРСУ. 2013. Т. 13. № 1. С. 50-52.