Аккозиев Имиль Аккунович – д-р техн. наук, профессор, чл.-корр. Международной академии информатизации, зав. кафедрой нетрадиционных и возобновляемых источников энергии КРСУ, тел.: (996-312) 360282, (996-770) 771430, e-mail: nvie.krsu@mail.ru
Жээнбеков Акылбек Аманович – канд. техн. наук, доцент кафедры нетрадиционных и возобновляемых источников энергии КРСУ, тел.: (996-312) 360282, (996-777) 715712, e-mail: aajeenbekov@istc.kg
Демьянович Петр Дмитриевич – вед. инженер лаборатории «Оптоэлектроника» КРСУ, тел.: (996-772) 517941
Пичужкин Андрей Геннадьевич – вед. инженер лаборатории «Оптоэлектроника» КРСУ, тел.: (996-555) 982088
Демьянович Даниил Петрович – ст. лаборант лаборатории «Оптоэлектроника» КРСУ, тел.: (996-772) 541460
ИЗМЕРЕНИЕ ВЫРАВНИВАЮЩЕЙ И МИКРОРАССЕИВАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЕЙ ЭЛЕКТРОЛИТОВ
Описан новый способ измерения с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) выравнивающей и микрорассеивающей способностей электролита, предназначенного для гальванических процессов осаждения ультратонких проводящих пленок.
Keywords in Russian:электролит; гальванический процесс; ультратонкие проводящие пленки
ИЗМЕРЕНИЕ ВЫРАВНИВАЮЩЕЙ И МИКРОРАССЕИВАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЕЙ ЭЛЕКТРОЛИТОВ
Описан новый способ измерения с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) выравнивающей и микрорассеивающей способностей электролита, предназначенного для гальванических процессов осаждения ультратонких проводящих пленок.
Keywords in Kyrgyz:электролит; гальванический процесс; ультратонкие проводящие пленки
ИЗМЕРЕНИЕ ВЫРАВНИВАЮЩЕЙ И МИКРОРАССЕИВАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЕЙ ЭЛЕКТРОЛИТОВ
Описан новый способ измерения с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) выравнивающей и микрорассеивающей способностей электролита, предназначенного для гальванических процессов осаждения ультратонких проводящих пленок.
Keywords in English:электролит; гальванический процесс; ультратонкие проводящие пленки